- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:24:09
X 射线衍射仪:用于分析晶体结构和残余应力。
电子背散射衍射仪:可用于测量晶体取向和残余应力。
中子衍射仪:适用于测量材料内部的残余应力。
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:24:01
钨华检测主要涉及对钨华材料的物理、化学和矿物学特性的分析。
化学成分分析:确定钨华中的钨含量以及其他杂质元素的种类和含量。
晶体结构分析:通过 X 射线衍射等技术确定钨
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:22:40
X 射线衍射仪:用于分析晶体结构和微观对称性。
电子显微镜:可观察材料的微观结构和对称性。
光学显微镜:用于观察微观结构和对称性。
拉曼光谱仪:可检测分子的振动和对称性。
红
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:22:14
显微镜:用于观察微观结构和形态。
电子显微镜:提供更高分辨率的微观图像。
扫描探针显微镜:可测量微观表面的形貌和物理性质。
原子力显微镜:用于研究微观表面的力学和电学性质
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:21:46
扫描电子显微镜(SEM):用于观察样品表面的微观形貌和结构。
透射电子显微镜(TEM):可以提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜(AFM):用于测量样品表面的形貌、粗糙度和力学性质
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:20:13
扫描电子显微镜:用于观察材料的微观结构和表面形貌。
透射电子显微镜:可以提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜:用于测量表面形貌和微观力学性质。
X 射线衍射仪:分析
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:19:44
扫描电子显微镜(SEM):用于观察材料的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜(TEM):能够提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜(AFM):可用于测量表面形貌、粗糙度和力学性质。
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 11:19:18
扫描电子显微镜(SEM):用于观察材料的微观结构和表面形貌,分辨率可达纳米级别。
透射电子显微镜(TEM):可以提供更高分辨率的微观结构信息,适用于研究纳米材料和生物样品。
原子力显微
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