- By 中析研究所
- 2024-07-20 00:03:43
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
透射电子显微镜：可直接观察位错的形态和分布。
扫描电子显微镜：用于观察样品表面的形貌和位错特征。
原子力显微镜：能够提供高分辨
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 00:02:14
X 射线衍射仪：通过测量晶体中 X 射线的衍射图案来确定晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察晶体中的位错结构和分布。
原子力显微镜：用于测量晶体表面的形貌和位错结
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 00:01:45
X 射线衍射仪：通过测量晶体对 X 射线的衍射图案，分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量材料表面的形貌和力学性质，也可以
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- By 中析研究所
- 2024-07-20 00:01:17
位错间距检测可以使用电子显微镜（Electron Microscope）。电子显微镜能够提供高分辨率的图像，可用于观察位错的间距和分布。
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:59:50
位错交截检测可以使用以下仪器：
1. 扫描电子显微镜（SEM）：可以用于观察位错的形态和分布，以及位错与其他晶体缺陷的相互作用。
2. 透射电子显微镜（TEM）：可以用于观察位错的微观结构和
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:59:22
电子显微镜：可用于观察位错节的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：用于分析位错节的晶体结构。
原子力显微镜：能够提供位错节的表面形貌信息。
光学显微镜：在一定条件下可观察到位
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:58:56
电子显微镜：可用于观察位错节的微观结构和弯曲情况。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：用于检测位错节的表面形貌和弯曲程度。
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:57:27
电子显微镜：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：分析晶体结构和位错密度。
拉伸试验机：测量材料的抗断强度。
硬度计：评估材料的硬度。
冲击试验机：测定材料的冲击韧性。
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