生物实验室丨北京中科光析科学技术研究所

电子显微镜：用于观察位错圈的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：可以分析位错圈引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能够提供位错圈的高分辨率图像和表面形貌信息。

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X 射线衍射仪：用于分析晶体结构，可检测到位错缺陷。
电子显微镜：包括透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM），可直接观察到位错缺陷的形态和分布。
原子力显微镜（AFM）：用于测量表面

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电子显微镜：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：检测位错引起的表面形貌变化。
光学显微镜：初步观察位错的存在。
扫描电子显微镜

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扫描电子显微镜（SEM）：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪（XRD）：可以分析位错引起的晶体结构变化。
透射电子显微镜（TEM）：提供高分辨率的位错图像。
原子力显微镜（AFM）：用于测量位

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电子显微镜：可用于观察材料中的位错塞积现象。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构，包括位错的存在和分布。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错塞积。

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X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌和位错信息。
扫描隧道显微镜：用于研究材料

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电子显微镜：可以直接观察到位错的形态和分布，以及位错与其他晶体缺陷的相互作用。
X 射线衍射仪：通过测量晶体的衍射图谱，可以分析位错对晶体结构的影响。
原子力显微镜：可以测量

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X 射线衍射仪：通过分析 X 射线衍射图谱，确定晶体结构中的位错密度和类型。
电子显微镜：可直接观察晶体中的位错形态和分布。
原子力显微镜：用于测量晶体表面的位错形貌和分布。

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