生物实验室丨北京中科光析科学技术研究所

X 射线衍射仪：通过分析晶体结构来确定位错线的存在和特征。
扫描电子显微镜：可以直接观察位错线的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量位错线的高度和表面形貌。
透射电子显微

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电子显微镜：可以直接观察到位错的存在和形态。
X 射线衍射仪：通过分析晶体结构来确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：用于检测材料表面的微观结构，包括位错。

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X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，确定晶体结构和位错密度。
电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），可以直接观察位错的形状和分布。
原子力显微镜（A

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电子显微镜：用于观察位错的形态、分布和结构。
X 射线衍射仪：可以分析位错引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能够检测位错对表面形貌的影响。
扫描隧道显微镜：可在位错研究中

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电子显微镜：可以直接观察到位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：通过分析衍射图谱来确定位错的密度和类型。
原子力显微镜：用于检测材料表面的微观结构，包括位错。
扫描隧道显微镜：

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X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错应变场。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌和应变信息。
中子衍射仪：适用于研究材料

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电子显微镜：用于观察位错源的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：可以分析位错源的晶体结构和缺陷。
原子力显微镜：能够测量位错源的表面形貌和力学性质。
扫描隧道显微镜：用于在位

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无色的检测通常是对某种物质或材料的光学性质进行评估，以确定其是否无色或具有特定的颜色特征。分光光度计检测：使用分光光度计测量物质在不同波长下的吸光度，以确定其颜色。比

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